La plate-forme de CARactérisation MÉtrologique des Nanomatériaux (CARMEN) du LNE est désormais opérationnelle. L’ensemble des instruments nécessaires pour dresser la fiche d’identité d’une nanoparticule (AFM, MEB-EDS, DLS, Zéta-mètre, BET, DRX) a été rassemblé au sein d’un laboratoire comprenant 150 m2 de salle blanche en milieu contrôlé (température, hygrométrie, vibration…). L’objectif est de développer la métrologie primaire des 8 paramètres principaux caractérisant une nanoparticule : taille, distribution en taille, forme, état d’agglomération/ agrégation, composition chimique, structure cristallographique, surface spécifique et charge de surface.

L’activité de la plate-forme CARMEN permettra d’aider les entreprises à effectuer des mesures fiables sur les nanomatériaux, de soutenir les études sur l’évaluation des risques liés aux nanoparticules et de répondre aux exigences réglementaires du décret relatif à la déclaration annuelle des substances à l’état nanoparticulaire. Il est important de souligner que la plate-forme CARMEN se positionne en amont de plates-formes de nanocaractérisation déjà existantes, avec l’ambition d’offrir sur le plan national un moyen de raccordement métrologique aux unités du SI, indispensable pour disposer de résultats de caractérisation fiables et comparables à la fois dans le temps et dans l’espace. La traçabilité au mètre des mesures dimensionnelles est ainsi assurée par la mise en œuvre d’un AFM métrologique, développé au sein du laboratoire et dont les choix de conception permettent de maîtriser les différentes sources d’incertitude sur la mesure. Cet instrument de référence doit permettre en outre d’étalonner l’ensemble du parc français de microscopes électroniques ou à champ proche.

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