Le programme EMPIR (http://msu.euramet.org/), dédié spécifiquement aux questions de métrologie, a été lancé en 2014 via un appel à projets concernant la thématique de la métrologie pour l’industrie. Pour rappel, ce programme de 600 M€ sur 7 ans, dont 100 M€ pour les nanotechnologies, les matériaux avancés et les biotechnologies, finance des projets d’une durée de 3 ans. Les consortiums regroupent des Laboratoires Nationaux de Métrologie (LNM) européens tel que le LNE, mais sont également ouverts à tout autre acteur de R&D (laboratoires académiques, centre technique, industriels, …), les règles de financement étant les mêmes que celles appliquées dans le cadre du programme Horizon 2020 (100 % coûts directs + forfait de 25% des coûts directs pour prise en charge des coûts indirects).

La première phase, clôturée le 18 mars dernier, a donné lieu à la sélection de 33 lettres d’intention (PRT = Potential Research Topic), qui doivent faire l’objet de propositions complètes d’ici le 09 octobre 2014. Cette seconde phase commence officiellement le 24 juin 2014, date à laquelle seront communiquées sur le site d’EMPIR (http://msu.euramet.org/) les objectifs auxquels devront répondre les projets proposés.

Parmi ces 33 potentiels futurs projets, 9 concernent la nanométrologie, dontcertains ont été proposés suite à des discussions au sein du Club nanoMétrologie. Afin de préparer les propositions attendues, des réunions sont prévues début juillet entre Berlin et Teddington (GB). Le lieu et la date précise de la réunion dépendent du projet considéré :

Acronyme Intitulé Lieu de la réunion Laboratoires Fr déjà impliqués dans le pré-consortium (LNM en gras)
SRT-i01 Advanced 3D chemical metrology for innovative technologies NPL, Teddington CEA-LETI
SRT-i04 Metrology for innovative nanoparticles NPL, Teddington LNE & CEA-LITEN
SRT-i08 Metrology for highly-parallel manufacturing PTB, Berlin /
SRT-i09 Reference nanodimensional metrology for nanomanufacturing PTB, Berlin LNE
SRT-i12 High frequency and dynamic measurements of functional materials NPL, Teddington /
SRT-i15 Metrology for graphene characterisation NPL, Teddington LNE & THALES 
SRT-i20 Metrology for length-scale engineering of materials NPL, Teddington ?
SRT-i21 Metrology for manufacturing 3D stacked integrated circuits NPL, Teddington LNE & CEA-LETI & ST-Microlectronics & THALES & ALTIS SEMICONDUCTOR & SOITEC
SRT-i24 Optical metrology solutions for next generation lithography PTB, Berlin LNE/CNAM & CEA-LETI & IM2NP (Univ. Aix-Marseille) & SEMILAB & CNRS GEMAC & LCP-A2MC (Univ. de Lorraine) & OPTIC NANO Consult  S.A.R.L & CNRS LPICM (Ecole Polytechnique) & CNRS LTM & CNRS-IMN & HORIBA Jobin Yvon


Il est possible de déclarer son intérêt pour un de ces sujets via le site internet d’Euramet (http://msu.euramet.org/industry_2014/) et de participer par la suite aux réunions de montage de projet prévues. A titre d’information, les projets retenus seront d’un budget global voisin des 3 M€.