La thèse proposée ici par le LNE en collaboration avec l’Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL) porte sur le développement d’une chaîne métrologique pour assurer la traçabilité au système international d’unités (SI) des mesures locales d’impédance à l’échelle nanométrique dans un domaine de fréquence couvrant le courant continu et les hautes fréquences (6 GHz). Les travaux concernent essentiellement les techniques de microscopie champ proche de type Résiscope et SMM (scanning Microwave Microscope). Ils s’intègrent particulièrement dans la contribution du LNE à deux projets de recherche européens qui sont en cours : SolCell (juillet 2014 – juin 2017) et 3DStack (juillet 2015 – juin 2018).

Aptitudes et connaissances particulières :

  • De bonnes connaissances en physique des surfaces et mesures électriques (en continu et alternatif).
  • Une première formation à l'AFM est fortement recommandée. De bonnes connaissances en modélisation et simulation informatique.
  • Le goût de la mesure et de l'instrumentation.
  • Aptitude au travail en équipe, rigueur, imagination et dynamisme sont des qualités nécessaires.
  • Une bonne maîtrise de l’anglais ainsi qu’une aisance à la rédaction de rapport sont requises.

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Contacts :

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