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Offres et recherches d'emploi

Proposition de thèse : Métrologie des techniques de microscopie à sonde locale électrique appliquées aux mesures de transport dans le domaine des semiconducteurs
Recherches d'emploi
Proposition de thèse : Développement d’une instrumentation « virtuelle » pour la caractérisation complète du microscope à force atomique métrologique (mAFM) du LNE - - instrument de référence nationale
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