Partenariat

Porte-objet MET environnemental pour études de Nano-objets liquides et hydratés

Durant la semaine du 10 au 15 Mars 2014, Cordouan Technologies en partenariat avec le fabricant Protochips et l’ICMCB , a organisé un workshop de présentation sur la plateforme de caractérisation de physico-chimie PLACAMAT à Pessac afin de réaliser des observations en microscopie électronique TEM sur des échantillons en solution.  Ces porte-objets dédiés utilisent un sandwich d’Echips étanches avec une fenêtre en SiN transparente aux électrons pour déposer vos solutions de matériaux divisés organiques ou inorganiques. De ce fait, il est possible de suivre in-Situ avec une résolution quasi-atomique des phénomènes d’auto-assemblages, de réorganisation, de nucléation, de cristallisation de Nano-objets dans leurs environnements natifs liquides.

Les applications sont multiples comme le suivi In-Situ à l’échelle Nano de synthèses chimiques, étude toxicologique, étude catalytique, vectorisation médicale à l’échelle Nano. Les applications industrielles sont nombreuses dans le domaine des encres, des gels/émulsions pour la cosmétique, ou de la chimie pour l’étude de suspensions de nano-objets.Une version de porte-objets permet aussi la caractérisation électrochimique (couplage liquide/électrique) pour les études sur les batteries liquides In-Situ.

 

 

 

http://www.cordouan-tech.com/fr/actualites/e-news/item/partenariat-avec-le-club-nanometrologie-pilote-par-le-lne

 

La diffusion et l’accès aux échantillons scientifiques – qu’il s’agisse d’échantillons de références, de matériaux aux propriétés remarquables ou encore de structures appelant la réalisation d’études interdisciplinaires – constituent deux éléments favorisant les avancées scientifiques et l’émergence de nouvelles technologies.

Composé d’une revue scientifique open access (Sample of Science Bulletin) et d’une plate-forme internet, Sample of Science a été créé afin de faciliter les échanges d’échantillons entre différentes équipes de recherche, par delà les frontières et les communautés.

Un nombre croissant de chercheurs du monde entier propose dès à présent leurs échantillons sur Sample of Science. Les scientifiques à la recherche d’échantillons y trouvent quant à eux de nouvelles opportunités pour en obtenir et initier de nouvelles collaborations. Lorsqu’un transfert intervient, la description de l’échantillon est publiée dans la revue open access Sample of Science Bulletin, lancée avec le concours de EDP Sciences.

Lancé au printemps 2013, Sample of Science a déjà été mis en avant par des media scientifiques internationaux tel que Physics Today (DOI: 10.1063/PT.3.2078).    

Sample of Science s’appuie sur un collège d’Editeurs Scientifiques s’assurant que les échantillons proposés satisfont aux exigences scientifiques de leur domaine. Les chercheurs peuvent s’appuyer sur Sample of Science pour accroître la visibilité des projets collaboratifs et réseaux qu’ils animent ou encore donner plus d’impact aux événements qu’ils organisent, l’échange d’échantillons étant un puissant moteur d’avancées scientifiques.

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La plate-forme de CARactérisation MÉtrologique des Nanomatériaux (CARMEN) du LNE est désormais opérationnelle. L’ensemble des instruments nécessaires pour dresser la fiche d’identité d’une nanoparticule (AFM, MEB-EDS, DLS, Zéta-mètre, BET, DRX) a été rassemblé au sein d’un laboratoire comprenant 150 m2 de salle blanche en milieu contrôlé (température, hygrométrie, vibration…). L’objectif est de développer la métrologie primaire des 8 paramètres principaux caractérisant une nanoparticule : taille, distribution en taille, forme, état d’agglomération/ agrégation, composition chimique, structure cristallographique, surface spécifique et charge de surface.

L’activité de la plate-forme CARMEN permettra d’aider les entreprises à effectuer des mesures fiables sur les nanomatériaux, de soutenir les études sur l’évaluation des risques liés aux nanoparticules et de répondre aux exigences réglementaires du décret relatif à la déclaration annuelle des substances à l’état nanoparticulaire. Il est important de souligner que la plate-forme CARMEN se positionne en amont de plates-formes de nanocaractérisation déjà existantes, avec l’ambition d’offrir sur le plan national un moyen de raccordement métrologique aux unités du SI, indispensable pour disposer de résultats de caractérisation fiables et comparables à la fois dans le temps et dans l’espace. La traçabilité au mètre des mesures dimensionnelles est ainsi assurée par la mise en œuvre d’un AFM métrologique, développé au sein du laboratoire et dont les choix de conception permettent de maîtriser les différentes sources d’incertitude sur la mesure. Cet instrument de référence doit permettre en outre d’étalonner l’ensemble du parc français de microscopes électroniques ou à champ proche.

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Ce microscope électronique à très haute résolution est unique en France. Sa configuration permet d'atteindre une résolution topologique inférieure à 0,078 nm et une résolution en spectroscopie de perte d'énergie de l'ordre de 0,3 eV. Optimisé pour l'analyse chimique, il est équipé d'un canon à effet de champ à cathode froide, d'un correcteur d'aberration sphérique sur l'illumination, d'un spectromètre EDS et d'un filtre de perte d'énergie qui permet à la fois de la spectroscopie EELS et de l'imagerie filtrée en énergie. Les meilleures résolutions sont obtenues à 200 kV mais l'analyse d'échantillons sensibles aux dégâts d'irradiation comme le graphène ou les nanotubes de carbone est possible à 80 kV, avec une résolution intérieure à 0,136 nm. Ce MET-STEM permet des analyses multi-échelles, de quelques dizaines de micromètres carrés à la colonne atomique. En mode haute résolution, il permet de visualiser directement les colonnes atomiques (Z contraste) et de connaître simultanément leur nature chimique (spectroscopies EDS ou EELS). Dans certaines limites, l'atome unique est détectable. La résolution ultime du microscope (topographie et spectroscopie) et sa polyvalence en font un outil de choix pour l'étude structurale et chimique des interfaces, des nano-objets, mais aussi pour l'étude de certaines propriétés physiques (plasmonique). Il est important de noter qu'en termes de métrologie, le microscope électronique à transmission est le seul dispositif actuellement validé qui permette une mesure directe dans le champ nanométrique.
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